10 Okt Strahlprofilmessgerät für NIR- und VIS-Laser
Das Strahlanalysesystem Ophir BeamWatch Plus von MKS Instruments ermittelt Fokusshift, -größe und -position industrieller Hochleistungslaser berührungslos – sowohl im Nahen Infrarot (NIR) als auch für sichtbares Licht (Visible, VIS). Die Weiterentwicklung des BeamWatch kann neben den NIR-Wellenlängen auch grüne und blaue Hochleistungslaser bei VIS-Wellenlängen von 420 bis 635 nm vermessen. Das Gerät wurde für YAG-, Faser- und Diodenlaser mit hohen Laserleistungen entwickelt, die klassischerweise in der industriellen Materialbearbeitung genutzt werden. Laut Hersteller ist es geeignet, um zentrale Laserparameter in Schweiß- oder Schneidprozessen zu überwachen: beispielsweise in der Automobilindustrie beim Kupferschweißen von Batteriezellen oder im Hairpin-Schweißen.
BeamWatch Plus ermittelt die relevanten Parameter über kontinuierliche Messungen der Rayleigh-Streuung des Strahls. Dadurch lassen sich Fokusgröße, Strahlposition und die vollständige Strahlkaustik direkt erfassen. Aufgrund der kurzen Messzeit lassen sich auch dynamische Messungen der Fokuslage, insbesondere beim Einschalten des Lasers, vornehmen. Anwender können den Laserstrahl in regelmäßigen Abständen analysieren, ohne den Laserprozess selbst komplett stoppen oder umfangreiche Umbauten vornehmen zu müssen.
Das Strahlanalysesystem nutzt Optiken mit einer starken Vergrößerung, sodass es Laserstrahlen bis hinunter auf eine Fokusgröße von 45 µm erfassen kann. Somit lassen sich auch sensible Schneidprozesse überwachen, um sicherzustellen, dass möglichst präzise Schnitte ausgeführt werden, ohne Material zu verschwenden. Da die Messung berührungslos erfolgt, gibt es für das BeamWatch Plus keine obere Leistungsgrenze, wie der Hersteller betont.
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Quelle und Bild: www.mks.com
