14 Jun Strahlanalyse und Leistungsmessung für AM-Systeme
Ophir-Beampeek ist ein integriertes Strahlprofilanalyse- und Leistungsmesssystem für Hochleistungslaser in Baukammern additiver Fertigungsanlagen (Additive Manufacturing, AM). Es liefert in nur drei Sekunden Strahlprofil, Fokusanalyse und Leistungsmessung. Anstelle einer Wasser- oder Lüfterkühlung nutzt das Produkt ein Kühlkonzept mit austauschbaren Kühleinschüben, um Ausfallzeiten zwischen Messungen zu vermeiden. Aufgrund der robusten Bauweise und dank des Verzichts auf zusätzliche Kühlsubstanzen oder Luftkühlung sind keine weiteren Anschlüsse erforderlich, und die Baukammer muss vor der Messung des Laserstrahls nicht gereinigt werden.
Ein Teil des Strahls gelangt auf den integrierten thermischen Sensor. Dieser kann bis zu 1 kW für zwei Minuten messen – sowohl bei grünen (532 nm) als auch bei NIR-Wellenlängen (1030 bis 1080 nm). Etwa 96 % des Strahls werden auf die Strahlfalle gelenkt und dort absorbiert. Die aktiven Komponenten (Elektronik, Optik, Kamera, Leistungssensor) befinden sich in einer separat geschützten Kammer, in der die Temperatur bei 1 kW um maximal 2,5 ̊C pro Minute steigt. Das System wird von den Ophir-Softwareoptionen Starlab, Beampeek Tool und Beamgage Professional unterstützt.
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Quelle und Bild: www.mks.com
