23 Mai Fernfeld-Analyse von Infrarotquellen
Die VTC 2400 von Instrument Systems ist eine hochauflösende Infrarotkamera, die für die 2-D-Fernfeld-Analyse der Strahlstärkeverteilung von VCSELs und IR-Emittern entwickelt worden. Das kosteneffiziente Messsystem besteht aus einem lichtdurchlässigen, diffus streuenden Schirm und einer auf Messungen im nahen Infrarot spezialisierten Monochromkamera. Dank lichtdichtem Kameragehäuse ist das System sowohl für Labor- als auch Produktionsanwendungen geeignet. Im Messaufbau steht der Schirm zwischen der Strahlungsquelle (Device Under Test, DUT) und der Infrarotkamera, so dass auf dem Schirm die typische Abstrahlcharakteristik des DUT sichtbar wird. Die Infrarotkamera erfasst diese 2-dimensionale Abbildung in einer einzigen Messung und rechnet über eine Kalibrierung die Bestrahlungsstärke [W/m2] in die Strahlstärkeverteilung [W/sr] des DUT um.
Die Abbildung der Strahlungsquelle über einen zusätzlichen Schirm machen den Messaufbau nach Angaben des Herstellers sehr flexibel. Grundlegende Messparameter wie der Abstand zum DUT, das Winkelsichtfeld oder die Winkelauflösung können für die eigene Anwendung justiert werden. Dies ermöglicht eine präzise Rekonstruktion der Strahlstärkeverteilung und die Identifikation des Intensitätsmaximums (Hot-Spot), wie sie beispielsweise für eine Lasersicherheitsbewertung erforderlich sind. Die Kamera weist eine auf die PTB–rückführbare radiometrische Kalibrierung auf. Zusammen mit dem Messkonzept garantiert dies laut Hersteller ein minimales Fehlerbudget und eine sehr hohe Messgenauigkeit.
Einsatzbereiche sieht der Hersteller bei preissensitiven, laserbasierten Anwendungen. Zukunftsfähige Entwicklungen erfordern beispielsweise eine Übertragung der laborerprobten VCSEL-Tests auf die Produktionslinien. Insbesondere bei sicherheitsrelevanten Komponenten wie Lidar-Systemen oder Face-ID müssen Hersteller sicherstellen, dass jeder VCSEL im Endgerät korrekt reagiert. In der Produktion erfordert dies eine massenmarkttaugliche, schnelle und zuverlässige Qualitätskontrolle der relevanten Messgrößen wie absolute Leistung, Wellenlänge, Einzelemitterdefekte, numerische Apertur und Strahlhomogenität.
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Quelle und Bild: www.instrumentsystems.com
