06 Sep Mit akkreditierten Prüfverfahren zu UV-C-Kalibrierstandards
Ein Münchner Prüflabor entwickelt rückführbare UV-A/B/C-Referenzquellen zur Kalibrierung und Prüfung von UV-Messequipment.
Die akkreditierte Prüfung von Strahlungsleistung und Lichtstrom mit dem Verfahren der Goniospektroradiometrie von optischen Strahlungsquellen bietet der Münchner Lichtmesstechnikspezialist Instrument Systems an. Die Methode war Grundlage für die Entwicklung von UV-C-LED-Referenzquellen mit rückführbaren Referenzwerten höchster Genauigkeit für Strahlungsleistung und Bestrahlungsstärke. Diese Referenzquellen werden für das Monitoring sowie die Kalibrierung von UV-Messequipment, wie der ISP-PTFE-Serie, verwendet.
Die Akkreditierung von Prüflaboren ist für Kunden der Lichtmesstechnik enorm wichtig. Sie erhalten mit ihr die Gewissheit, dass ihre Messgeräte zuverlässige und rückführbare Ergebnisse liefern. Die akkreditierte Prüfung der oftmals in der Produktion eingesetzten Geräte stellt zudem eine hohe Qualität der Endprodukte und ein hohes Maß an Vertrauen beim Endkunden sicher. Instrument Systems unterhält deshalb ein nach DIN EN ISO/IEC 17025 akkreditiertes Prüflabor, das rückführbare Prüfungen aller relevanten foto- und radiometrischen Messgrößen vom UV bis zum NIR mit einer Vielzahl von Messverfahren anbietet.
Die in der Lichtmesstechnik sehr erfahrenen Ingenieure von Instrument Systems haben ein mit der Norm CIE 239:2020 konformes, akkreditiertes Prüfverfahren entwickelt, mit dessen Hilfe sich hochgenaue UV-LED-Referenzquellen erstellen lassen. Die Bestimmung der rückführbaren Referenzwerte für Strahlungsleistung erfolgt mittels Vermessen der UV-LED-Quellen mit einem Goniospektralradiometer, bestehend aus einem hochpräzisen Goniometer der LGS-Serie und einem ebenfalls im Prüflabor rückführbar geprüften CAS-Spektrometer mit Bestrahlungsstärke-Einkoppeloptik. Mit dieser Kombination werden sehr niedrige erweiterte Messunsicherheiten (k = 2) der Referenzwerte von nur 4,5 % (UVC), 3,5 % (UVB) beziehungsweise 2 % (UVA) erzielt.
Quelle und Bild: www.instrumentsystems.com
