07 Mai Hyperspektrales Mikroskop zur effizienten Materialanalyse
Für Werkstoffuntersuchungen, etwa an Solarzellen oder Halbleitern, bietet Photon ETC das hyperspektral abbildende Mikroskop IMA an (Vertrieb: SphereOptics).
Das Gerät generiert spektrale und räumliche Informationen im VIS, NIR und SWIR (400 bis 1620 nm). Es ermöglicht schnelle Messungen von Foto- und Elektrolumineszenz, Fluoreszenz, Reflektanz sowie Transmission geeigneter Proben. Dabei arbeitet es, so die Aussage des Anbieters, dank seiner Filtertechnik mit sehr hohem Durchsatz schneller und effizienter als herkömmliche Systeme.
Potenzielle Einsatzfelder des Mikroskops reichen von komplexen Materialanalysen zur Qualitätskontrolle und Charakterisierung von Solarzellen oder Halbleiterbauelementen über Untersuchungen an IR-Markern in komplexen Umgebungen, wie lebenden Zellen oder Gewebe, bis hin zu Messungen im Dunkelfeld, um kontrastreiche Aufnahmen von transparenten und ungefärbten Proben, wie Polymeren, Kristallen oder lebenden Zellen, zu erzielen.
Quelle und Foto: https://www.sphereoptics.de
