220-GHz-Analysator für optische Transceiver

220-GHz-Analysator für optische Transceiver

Keysight Technologies stellt mit dem Lightwave Component Analyzer N4378A ein Messgerät vor, das vollständig kalibrierte S-Parameter-Messungen bis 220 GHz ermöglicht und die Entwicklung optischer Transceiver für Datenraten bis 1,6 und 3,2 Tbit/s unterstützen soll.

Der Analysator adressiert steigende Anforderungen in Rechenzentren und KI-Anwendungen, in denen höhere ­Datenraten eine präzise Charakterisierung elektrooptischer und optoelektronischer Komponenten bei steigenden Frequenzen erfordern. Er lässt sich laut Hersteller mit dem Vektor-Netzwerkanalysator PNA-X und Frequenzextendern kombinieren und erlaubt breitbandige Messungen in einem Durchlauf bis 220 GHz bei Wellenlängen von 1310 und 1550 nm.

Der LCA N4378A erfasst S-Parameter über einen weiten Frequenzbereich und liefert damit detaillierte Einblicke in Fotodetektoren und optische Modulatoren. Das Gerät unterstützt Verbindungen im O-Band für Rechenzentrumsanwendungen sowie Übertragungen im C- und L-Band, etwa für terrestrische Netze und Unterseekabel. Differenzielle Messverfahren ermöglichen die Prüfung moderner Modulatorarchitekturen mit zwei Treibern. Eine optimierte Software vereinfacht die Einrichtung und führt durch den Messablauf. Sie unterstützt die Analyse und hilft, Konstruktionsrisiken zu erkennen. Dadurch verkürzt sich die Entwicklungszeit, weil sich Simulationen mit Messdaten abgleichen lassen.

Für den praktischen Einsatz berücksichtigt der Analysator auch mechanische Aspekte: Eine Schnellverschlussvorrichtung erleichtert die Neupositionierung zwischen Kalibrierung und Messung. Gleichzeitig schützt das Konzept empfindliche 0,5-mm-Koaxialanschlüsse.

Keysight entwickelt ergänzend HF-Tastköpfe, Adapter und Messkabel für dieses Koaxialformat. Damit entsteht ein abgestimmtes Messumfeld, das hochfrequente optoelektronische Charakterisierung bis in den Sub-Terahertz-Bereich unterstützt.

Typische Anwendungen liegen in der Entwicklung von Transceivern für 1,6- und 3,2-Tbit/s-Verbindungen, in der Charakterisierung von Photodetektoren und Modulatoren sowie in der Validierung optischer Schnittstellen für Rechenzentren und Weitverkehrsnetze.

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Quelle und Bild: www.keysight.com