12 Feb. Breitbandiges Strahlprofilmessgerät mit Quantenpunkt-Sensor
Das Ophir SP301Q von MKS ein neues Strahlprofilmessgerät, das auf kolloidalen Quantenpunkten (Colloidal Quantum Dots, CQD) basiert. Das System ist für die Analyse von Laserstrahlen im sichtbaren Spektralbereich sowie im nahen und kurzwelligen Infrarot ausgelegt und adressiert Anwendungen im industriellen Umfeld. Die CQD-Sensortechnologie deckt einen Wellenlängenbereich von 400 bis 1700 nm ab und eignet sich insbesondere für SWIR-Laser, etwa bei 1550 nm. Nach Angaben des Herstellers bietet der Sensor eine vergleichbare Auflösung und Empfindlichkeit wie InGaAs-basierte Systeme, unterliegt jedoch keinen ITAR-Beschränkungen.
Das Ophir SP301Q verfügt über eine aktive Sensorfläche von 9,6 mm × 7,7 mm bei einer Auflösung von 640 × 512 Pixeln (VGA). Ein schnell schließender Shutter ermöglicht Messungen auch bei höheren Laserleistungen. Das System analysiert Strahlform, -größe und Leistungsdichte. Für die Integration in industrielle Umgebungen verfügt das Strahlprofilmessgerät über eine GigE-Schnittstelle zur schnellen Datenübertragung und Netzwerkanbindung.
Zur Auswertung wird die Software Ophir BeamGage Professional eingesetzt. Sie basiert auf dem Ultracal-Algorithmus von MKS und unterstützt Strahlmessungen gemäß ISO 11146-3. Die Software stellt Funktionen zur Bestimmung unter anderem von Strahldurchmesser, Leistungsdichte und Strahlposition bereit sowie Werkzeuge für Bildverarbeitung, Trendanalysen, Datenlogging und Gut/Schlecht-Tests in der Produktion.
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Quelle und Bild: www.mks.com